高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)HAST和PCT的類型

一、PCT（Pressure Cooker Test）

1. 類型：

• 解釋：PCT屬于飽和型設(shè)備。

• 示例：其特點(diǎn)是濕度默認(rèn)設(shè)置為100%，溫度、濕度、壓力同時(shí)上升或下降。

2. 應(yīng)用：

• 解釋：PCT主要用于測(cè)試IC封裝、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料等產(chǎn)品的密封性能和老化性能。

• 示例：例如，在100℃至143℃的飽和蒸汽溫度范圍內(nèi)，以及120℃一個(gè)大氣壓、133℃兩個(gè)大氣壓時(shí)，產(chǎn)品的老化性能和密封性能。

二、HAST（Highly Accelerated Stress Test）

1. 類型：

• 解釋：HAST屬于非飽和型設(shè)備。

• 示例：其特點(diǎn)是溫度、濕度（70%~100%）、壓力可調(diào)，可做高溫高濕、高低溫循環(huán)、雙85、雙95、高溫高濕高壓等測(cè)試。

2. 應(yīng)用：

• 解釋：HAST主要用于測(cè)試IC封裝、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料等產(chǎn)品的密封性能和老化性能。

• 示例：例如，通過改變溫度、濕度、壓力等基礎(chǔ)參數(shù)，如高溫、高壓、高濕條件，將水蒸氣壓力增加到一定程度，以加速產(chǎn)品老化過程。

三、主要區(qū)別

1. 測(cè)試環(huán)境：

• PCT：在常溫下進(jìn)行測(cè)試，主要考察產(chǎn)品在高壓高濕環(huán)境下的性能。測(cè)試環(huán)境的濕度通常控制在100%RH。

• HAST：在高溫高濕環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試，主要考察產(chǎn)品在極端條件下的性能。測(cè)試環(huán)境的濕度可調(diào)，通常在70%~100%RH之間。

2. 參數(shù)調(diào)節(jié)范圍：

• PCT：濕度默認(rèn)設(shè)置為100%，溫度、濕度、壓力同時(shí)上升或下降。

• HAST：溫度、濕度（70%~100%）、壓力可調(diào)，具有更廣泛的參數(shù)調(diào)節(jié)范圍。

3. 適用場(chǎng)景：

• PCT：更適合于需要固定濕度和壓力隨溫度變化進(jìn)行測(cè)試的應(yīng)用場(chǎng)景。

• HAST：適用于需要精確控制溫度、濕度和壓力的復(fù)雜測(cè)試需求。

總結(jié)

PCT（Pressure Cooker Test）屬于飽和型設(shè)備，其特點(diǎn)是濕度默認(rèn)設(shè)置為100%，溫度、濕度、壓力同時(shí)上升或下降。HAST（Highly Accelerated Stress Test）屬于非飽和型設(shè)備，其特點(diǎn)是溫度、濕度（70%~100%）、壓力可調(diào)，具有更廣泛的參數(shù)調(diào)節(jié)范圍。兩者在測(cè)試環(huán)境、參數(shù)調(diào)節(jié)范圍和適用場(chǎng)景等方面存在顯著區(qū)別。選擇哪種試驗(yàn)方法應(yīng)根據(jù)具體的產(chǎn)品要求和可靠性測(cè)試目標(biāo)來決定。